基本情報/Basic Information

開講科目名 ／Course	半導体表面物性特論／Semiconductor Surfaces
時間割コード ／Course Code	S222000006
ナンバリングコード ／Numbering Code
開講所属 ／Course Offered by	理工学研究科／
曜日コマ ／Day, Period	月　3
開講区分 ／Semester offered	後期／second semester
単位数 ／Credits	2.0
学年 ／Year	1,2
主担当教員 ／Main Instructor	遠田 義晴／ENTA YOSHIHARU
科目区分 ／Course Group	大学院（博士前期課程）　専門科目
教室 ／Classroom
必修・選択 ／Required/Elective	選択
授業形式 ／Class Format	講義科目
メディア授業 ／Media lecture	－

担当教員情報/Instructor Information

教員名 ／Instructor	教員所属名 ／Faculty/Department
遠田 義晴／ENTA YOSHIHARU	理工学研究科／

難易度（レベル） ／Level	レベル5
対応するＤＰ ／DP	DP1･DP2･DP3
授業としての具体的到達目標 ／Concrete arrival target as the class	○半導体表面上で生ずる様々な物理化学現象を理解すること。（DP1),(DP2) ○それらを調べる実験方法について理解すること。（DP3)
授業の概要 ／Summary of the class	固体表面の結晶構造と表面反応に係る基礎理論と実験方法を学びます。
授業の内容予定 ／Contents plan of the class	第１回：ガイダンス 第２回：固体表面原子構造① 第３回：固体表面原子構造② 第４回：表面エネルギー 第５回：表面に特有な構造 第６回：分子の表面吸着 第７回：吸着エネルギー 第８回：分子吸着構造と脱離過程 第９回：ラングミュア等温曲線① 第１０回：ラングミュア等温曲線② 第１１回：触媒反応 第１２回：超高真空とは 第１３回：超高真空の必要性 第１４回：演習 第１５回：学習状況の確認と振り返り
成績評価方法及び採点基準 ／A scholastic evaluation method and marking standard	授業への参加度 55％ レポート 45％ 上記を合算して，最終的な成績評価を行う予定です。
予習及び復習等の内容 ／Contents such as preparations for lessons and the review	[予習] 配布資料の予習が必要です。 [復習] 適宜演習問題による復習が必要です。
教材・教科書 ／The teaching materials, textbook	１回目の講義のときに、英語のテキストを、配布またはダウンロード元を説明します。
参考文献 ／bibliography	特になし
留意点・予備知識 ／Point to keep in mind, back ground	固体物理に関する基礎的な知識を必要とします。
授業内容に関する質問・疑義等 ／Question, doubt about class contents	Teamsのチャットから、いつでも受け付けます。
Eメールアドレス・HPアドレス ／E-mail address, HP address	なし
学問分野1（主学問分野） ／Discipline 1	B13:物性物理学およびその関連分野
学問分野2（副学問分野） ／Discipline 2	該当なし
学問分野3（副学問分野） ／Discipline 3	該当なし
地域志向科目 ／Local intention subject	なし
授業形態・授業方法 ／Class form, class method	輪講と解説の繰り返しにより進められます。
科目ナンバー ／The subject number
メディア授業による著作物利用の有無について ／Whether or not copyrighted works are used in media classes	有／Yes
その他 ／Others	特になし

No.	回（日時） ／Time (date and time)	主題と位置付け（担当） ／Subjects and instructor's position	学習方法と内容 ／Methods and contents	備考 ／Notes
該当するデータはありません